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光焱科技REPS+與G2 Voc損耗分析儀是一個完整的系統，可以幫助科學家測量、計算和分析工作中的太陽能電池中的 Voc-loss，并為下一步的工藝改進提供思路。

光焱科技REPS Pro太陽能電池Voc損耗分析儀是一個完整的系統，可以幫助科學家測量、計算和分析工作中的太陽能電池中的 Voc-loss，并為下一步的工藝改進提供思路。

LQ-100X-PL外部量子效率eqe,外量子效率eqe測試系統適用測試PLQY (Photoluminescence Quantum Yield, 光致發光量子產率)。 PLQY 是評價發光材料的重要指標，除了可以用來對材料進行初級分類的基本參數，且對于發光系統與其載子動力學的重要分析方法。

在半導體器件中，不完好的結晶度往往會導致禁帶隙中的缺陷或陷阱態，這極大地影響了器件的整體光學和電學性能。由于帶隙中的吸收系數極低，產生的光電流信號也極弱。因此，需要高度靈敏的檢測系統。 Enlitech 的 FTPS 是一種高靈敏度的光電流和外量子效率 (HS-EQE) 光譜系統。它利用傅里葉變換信號處理技術來增強和突破光電流信號檢測極限。 EQE 水平可以低至10-5%（7 個量級）*。

光焱科技QE-R量子效率測試系統采用了高效的橢圓反射器，比傳統的球形透鏡和反射器具有更高的集光效率。且于60cm x 60cm x 60.7cm 的主體內集成了所有光學和機械部件，節省了大量實驗室空間，但仍保持了各種類型的太陽能電池測試夾具的靈活性。并且也提供簡單而完整的手套箱集成方案。

激光掃描缺陷成像儀是激光束感應電流（LBIC）測試的升級版本。它利用波長能量大于半導體帶隙的激光束照射半導體，產生電子空穴對。通過快速掃描樣品表面，獲得揭示內部電流變化的圖像分布，從而分析各種缺陷分布。這有助于分析樣品制備的質量并有助于工藝改進。